Simulated 1200V SiC-MOSFET short-circuit behavior - Université de Tours Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2018
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01862351 , version 1 (27-08-2018)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01862351 , version 1

Citer

Guillaume Goubard, Zheng Ren, Nathalie Batut, Ambroise Schellmanns. Simulated 1200V SiC-MOSFET short-circuit behavior. icrepq2018, Mar 2018, Salamanca, Spain. ⟨hal-01862351⟩
71 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More