Ageing of glass passivated TRIAC devices under thermal and electrical stress - Groupe de Recherche en Electronique, Matériaux, Acoustique et Nanotechnologies Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2020

Ageing of glass passivated TRIAC devices under thermal and electrical stress

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Sciences de l'ingénieur [physics]
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Citer

Y. Buvat, E. Bouyssou, B. Morillon, Gaël Gautier. Ageing of glass passivated TRIAC devices under thermal and electrical stress. Microelectronics Reliability, 2020, 114, pp.113767. ⟨10.1016/j.microrel.2020.113767⟩. ⟨hal-03192638⟩

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